简要说明ZX1286 高速精密 LCR 表：可灵活应用于研究开发到产线等领域，追求高性价比的 LCR测试仪。特别适合各种高速测试机台。订购信息●ZX1286：4Hz~8MHz 精密 LCR 表性能特点●高精度 基本精度 0.05%●高速：高达 1ms 的 ADC 时间●高达 8MHz 的测量频率●接触检查功能●简体中文、英文操作语言●绘图扫描、开路、短路、负
咨询电话：400-838-1718
简要说明
ZX1286 高速精密 LCR 表：可灵活应用于研究开发到产线等领域，追求高性价比的 LCR测试仪。特别适合各种高速测试机台。
订购信息
●ZX1286：4Hz~8MHz 精密 LCR 表
性能特点
●高精度 基本精度 0.05%
●高速：高达 1ms 的 ADC 时间
●高达 8MHz 的测量频率
●接触检查功能
●简体中文、英文操作语言
●绘图扫描、开路、短路、负载校正等等功能
●进行测试数据、测试条件保存（U 盘或内部）
●绘图扫描图像直接拷屏到 U 盘功能
●加强的测试端保护功能
●USB、GPIB(选件)、RS232、LAN（选件）等上位机连接接口
规格参数
型号 | ZX1286 |
测量参数 | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
测量量程 | 0.1、1、10、100、1K、10K、100K、1M、10M、100M; 10 档量程（所有参数由 Z 规定） |
显示范围 | Z: 0.000 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.000~9999.99), Rdc: ± (0.000 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
测量范围 | Z：0.00 m~9.99999 GΩ；R：0.00 m~9.99999 GΩ； |
C:0.000p-999.999mF； | |
L:0.000n-999.999H | |
基本精度 | Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ） |
测量频率 | 4 Hz~8 MHz |
测量信号电平 | [V 模式, CV 模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (*大 50 mA) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (*大 10 mA) [V 模式, CV 模式]的[低 Z 高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (*大 100 mA) [CC 模式]的[通常模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (*大 5 V) 1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (*大 1 V) [CC 模式]的[低 Z 高精度模式] 4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (*大 1 V) [直流电阻测量]: 1 V 固定 |
DC 偏压 | 发生范围：DC 电压 0~2.50 V (低 Z 高精度模式时 0 ~1 V) |
输出阻抗 | 通常模式：100 Ω, 低 Z 高精度模式: 10 Ω |
显示 | 彩色 TFT 7 英寸液晶屏 |
功能 | 比较器、BIN 测量（2 个项目 10 种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能 |
接口 | EXT I/O /USB/U 盘/LAN（选配）/GP-IB（选配）/RS-232C |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
体积及重量 | 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
