ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪 概述ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪：使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~2MHz，最小分辨率1mHz，基本测量精度可达0.05%。主要用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压(V)下的电容量(C)。ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪除了可以连接电脑上位机软件扫描分析
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ZX38A-CV 半导体C-V特性测试仪 概述
ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪：使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~2MHz，最小分辨率1mHz，基本测量精度可达0.05%。
主要用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压(V)下的电容量(C)。ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪除了可以连接电脑上位机软件扫描分析功能外，还提供在仪器大屏液晶显示器上直接显示C-V扫描曲线分析功能。这样客户不再需要为每台仪器配置一台电脑。这种方式既保证了测试效率，又降低了测试成本、还方便客户在生产线上使用。还可以把仪器屏幕上显示图形和测试数据直接拷贝到U盘。
本仪器还可以测试MOS管的输入电容Ciss，输入电阻Rg等参数。同时提供了内置±10VDC电压源方便客户测试3端管子。
ZX38A-CV 半导体C-V特性测试仪 产品特点
●自动平衡技术电桥，4端对开尔文测试端
●提供内部直流偏压-40V～+40V
●简体中文、英文操作语言
●绘图扫描、开路、短路、负载校正等等功能
●进行测试数据、测试条件保存（U盘或内部）
●绘图扫描图像直接拷屏到U盘功能
●加强的测试端保护功能
●USB、GPIB(选件)、RS232、LAN（选件）等上位机连接接口
订购信息
●ZX38-CV：20Hz-1MHz 半导体C-V特性测试仪
●ZX38A-CV：20Hz-2MHz 半导体C-V特性测试仪
自动平衡电桥技术
ZX38A使用的自动平衡电桥测试原理，把以往简易的测量运放改进成：Lpot检零电路，0度90度数字检相及调制解调电路，Lcur高频驱动电路等等组成的矢量负反馈网络。从而保证了测量电路的虚地端更接近理想。自动平衡电桥技术能够更好的抵消叠加偏压对电容测量造成的误差。
主要测量页面
ZX38A-CV 半导体C-V特性测试仪 技术参数
测量参数 | C、L、X、B、R、G、D、Q、ESR、Rp、θ、|Z|、|Y| | |
测量电平 | 0.005-20Vrms(<=1MHz) 0.005-15Vrms(>1MHz) | |
基本准确度 | 0.05%, 具体见公司相关企业标准 | |
测量速度 | 快速:100次/秒、中速20次/ 秒、慢速6次/秒 | |
显 示 范 围 | |Z|,R,X | 0.01 mΩ～99.9999MΩ |
|Y|，G， B | 0.00001μS～99.9999S | |
C | 0.00001pF～9.99999F | |
D | 0.00001～9.99999 | |
L | 0.00001μH～99999.9H | |
Q | 0.01～99999.9 | |
θ(RAD) | -3.14159～3.14159 | |
θ(DEG) | -179.999 °～179.999° | |
Δ% | -999.999%～999.999% | |
内部直流 偏置电压 | 可选配±100mA、-40V～+40V | |
量程方式 | 自动、保持 | |
触发方式 | 内部、手动、自动、外部、总线 | |
校准功能 | 开路/短路、扫频清零、点频清零 | |
等效电路 | 串联、并联 | |
比较器 | 十档分选，BIN0～BIN9、NG、AUX | |
PASS、HI、LOW(PASS/FAILLED显示) | ||
接口 | RS232C、UsbHost、USB Device、Handler、GPIB（选件） | |
温度湿度 | 0℃～40℃，相对湿度≤75% | |
电源要求 | 100～120 Vac或198～242 Vac | |
46～64 Hz，功率大于75 VA | ||
体积(WxHxD) | 400mmx132mmx410mm | |
重量（净重） | 8.5Kg | |
