EM5070B耦合/去耦网络CDNE-M3用于EMI测试的产品,它能在射频范围内为被测试设备端子和参考地之间提供稳定的阻抗,同时将来自电网的无用信号与测量电路隔离开,仅将被测试设备的干扰电压耦合到测量接收机的输入端。耦合和去耦装置(即CDNE)可以用于电气照明设备30MHz-300MHz辐射骚扰测量;根据标准CISPR15/EN55015 ;具体测量
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EM5070B耦合/去耦网络CDNE-M3用于EMI测试的产品,它能在射频范围内为被测试设备端子和参考地之间提供稳定的阻抗,同时将来自电网的无用信号与测量电路隔离开,仅将被测试设备的干扰电压耦合到测量接收机的输入端。
耦合和去耦装置(即CDNE)可以用于电气照明设备30MHz-300MHz辐射骚扰测量;根据标准CISPR15/EN55015 ;具体测量方法参看上述标准。
EM5070B适用于单相设备传导(骚扰电压)测量。由于设计原理上会存在较大的漏电流,要求实际应用时需要良好接地,必要情况下,需要加隔离变压器配合使用,可选择EM5060,容量达到900VA,满足大部分测试需求。
特点:
■ 频率范围 30MHz—300MHz
■ 交流频率范围 50~60Hz ±5%
规格
频率范围 | 30MHz—300MHz |
测定线路相数 | 单相 |
交流电压范围 | 0~250V AC +10% |
交流频率范围 | 50~60Hz ±5% |
直流电压范围 | 0~400V DC |
电流范围 | 0~16A |
输出接口 | 4mm香蕉座 |
干扰输出端接口 | 标准BNC母座,50Ω |
射频连续输出电压 | 140dBuV |
工作温度范围 | 5℃~45℃ |
分压系数(EUT端与RF端) | 20dB ±1.5dB |
共模阻抗 | 150Ω+10Ω/-20Ω |
尺寸 | 126mm(长)×150mm(宽)×150mm(高) |
重量 | 0.82kg |